Otra muestra de excelencia técnica del #TEAMHitec

El día miércoles 25 de noviembre, Cristian Muzzio participó como expositor de la Tercera Jornada de Metrología para la Transformación Digital, en el marco de las jornadas de difusión de desarrollo tecnológico e innovación organizadas por el INTI: «Un INTI Cerca».

La apertura del evento la realizó el Presidente del INTI. El primer disertante fue el Dr. Sascha Eichstädt – Jefe de Departamento del Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) equivalente al INTI en Alemania. Él expuso sobre el desafío metrológico que representa IoT (Internet of Things) a través de la multiplicidad de sensores como también la necesidad de dimensionar la incertidumbre en datos obtenidos a través de Inteligencia Artificial.

 

El Dr. Ing. Cristián Muzzio -Cristian para quienes lo conocemos en el día a día- continuó el evento presentando a HITEC, nuestro departamento de Calibraciones y expuso los puntos claves de Industria 4.0.  Introdujo los distintos tipos de mantenimiento que existen y las posibilidades que los teSensors, la teBox y la plataforma Terative -los tres productos desarrollados por Hitec- pueden aportar a la Industria a través de mantenimiento predictivo. Relacionado con los desafíos expuestos por el Dr Sascha, Cristian explicó los dos proyectos que están en progreso con el INTI. El primero desarrollará la capacidad de calibrar nuestros propios sensores de vibraciones incluyendo DCCs (Certificado Digital de Calibraciones), lo cual asegurará la confiabilidad y calidad metrológica de los datos utilizados para mantenimiento predictivo por la plataforma Terative. El segundo es una investigación que estudia el efecto de la incertidumbre de las mediciones en los algoritmos de IA utilizados para mantenimiento predictivo.

Felicitaciones a Cristian Muzzio por demostrar una vez más la excelencia técnica del #TeamHITEC en este distinguido evento y panel de expositores.

Publicado el 26/11/2021 por María Eugenia Diaz – Hitec S.R.L.

es_ESEspañol